X 射線熒光光譜分析法在鎢礦檢測中具有準確性好， 精密度高的優(yōu)點。在選礦廠浮選生產(chǎn)過程中， XRF礦石分析儀主要用于在線監(jiān)測礦漿中重要元素的含量。在國內(nèi)，選礦生產(chǎn)過程中主要有便攜式和臺式礦石品位分析儀。

開展典型礦床測試分析技術(shù)應用研究，優(yōu)選出適合實物地質(zhì)資料的分析測試技術(shù)。實物地質(zhì)

資料分析測試原則和要求：首先以樣品破壞程度小甚至不破壞為原則，保護實物地質(zhì)資料的完整

性；其次能夠快速、多元素連續(xù)測定，加強實物資料的整體性研究，為實物地質(zhì)數(shù)據(jù)采集與信息

共享提供更加準確的數(shù)據(jù)；再次提高分析的準確度和精密度，降低分析測試成本，從而提高找礦

效率，節(jié)約找礦成本。

XRF礦石分析儀無損測試可進行定性、半定量分析，不破壞樣品，有利于實物地質(zhì)資料的長期保存。實物地質(zhì)資料在服務利用過程中盡可能使用原位無損檢測技術(shù)，挑選簡單、快速、信息量大的分析方法，可以用來全面了解各種巖石、礦石、礦物中成分的大致含量，為選擇合理的分析方法、查明化學分析中的干擾成分、制定合理分析方案等提供依據(jù)。便攜式 X 射線熒光光譜儀Compass200礦石分析儀能夠?qū)ΦV石、巖 石、土壤、沉積物等樣品進行快速金屬元素含量分析，屬于不需樣品前處理的非破壞性測試方法，

能在極短的時間內(nèi)完成快速分析和現(xiàn)場直接測定。該儀器通常能夠同時檢測出礦石中多達 25 種

金屬元素。

定量分析一般對樣品破壞程度高，樣品不可重復利用。當前地質(zhì)工作中常用的定量分析技術(shù)

可實現(xiàn)多信息提取，測定數(shù)據(jù)準確、多樣，為科研工作者提供服務。X 射線熒光光譜（XRF法由于制樣簡單、成本低、分析快速、結(jié)果準確、破壞性小和環(huán)境污染少等優(yōu)點被廣泛應用于礦

石樣品的分析檢測中；Compass200礦石品味分析儀不僅檢出限低，精密度、準確度高，而且動態(tài)線性范圍寬，是礦石成分和品味測定的理想工具之一。

自然界很多礦物存在類質(zhì)同象現(xiàn)象,它們在顯微鏡下特征相似難以區(qū)分,對于這類礦物的鑒定,需要借助X射線分析,電子顯微鏡,電子探針分析和離子探針分析等手段,獲取礦物的化學成分和結(jié)構(gòu),為礦物鑒別提供有用的信息.我們以鉛鋅礦石中比較典型且易于收集的方鉛礦(Pb 86.60%,S 13.40%)和閃鋅礦(Zn 67.10%,S 32.90%)為例,利用X射線熒光光譜儀分析功能,對鉛鋅礦石標本進行定性和定量鑒定,實驗結(jié)果表明,XRF無需樣品制備，或者只需要簡單的樣品制備，即可達到良好的測試效果

測試譜圖