正確處理真空型礦產(chǎn)元素分析儀故障是確保正常運(yùn)行的關(guān)鍵
2024-05-27
真空型礦產(chǎn)元素分析儀具有超高的靈敏度和重現(xiàn)性，能夠分析從硫到鈾的廣泛元素范圍，并覆蓋1ppm至99.99%的廣泛含量。其操作簡(jiǎn)便，界面友好，適用于各種礦產(chǎn)資源的快速分析和評(píng)估，為地質(zhì)勘探、礦產(chǎn)開發(fā)等領(lǐng)域提供強(qiáng)有力的技術(shù)支持。真空型礦產(chǎn)元素分析儀在使用過程中可能會(huì)出現(xiàn)故障，了解并正...
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古董分析工具——EDX9900 plus光譜儀
斷源與斷代是古陶瓷科學(xué)技術(shù)研究中的兩個(gè)重要方面，其中必定要使用到對(duì)古陶瓷標(biāo)本的化學(xué)組成以及記錄其年代信息的載體進(jìn)行測(cè)定的科學(xué)方法。測(cè)定古陶瓷標(biāo)本與各地制陶原料的化學(xué)組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地，并可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測(cè)保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較準(zhǔn)確的進(jìn)行斷代。作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX9900plus配置了基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamentalparamet...
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巖石分析儀提供了哪些軟件功能
無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實(shí)現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測(cè)試結(jié)果，更穩(wěn)定的儀器性能。巖石分析儀應(yīng)用：塑膠及有機(jī)物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測(cè)，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)等食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等界面清晰易用。選擇方法并...
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哪些因素會(huì)影響測(cè)金儀的試驗(yàn)結(jié)果
測(cè)金儀的檢測(cè)對(duì)象：黃金、鉑金、鈀金、K金、K白金，合金，電鍍液等。應(yīng)用行業(yè)：貴金屬及合金的成分分析。黃金K值快速鑒定（4k-24K）。千足金萬足金快速區(qū)分。黃金珠寶，鐘表和硬幣的真?zhèn)螠y(cè)試。牙科合金分析。鍍層厚度分析。電鍍液金屬元素含量分析。測(cè)金儀的優(yōu)勢(shì)：1.微光斑（1mm，0.5mm），1mm樣品檢測(cè)面積。利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能，來捕獲圖像并專注于小區(qū)域檢測(cè)。2.垂直光路設(shè)計(jì)，提高復(fù)雜樣品檢測(cè)精度。3.多準(zhǔn)直器可選（0.5mm，1mm，2mm）。4.FP（基本參數(shù)法）...
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X熒光測(cè)硫儀測(cè)量時(shí)要注意樣品臺(tái)板的位置
X射線熒光光譜儀（X-rayFluorescenceSpectrometer，簡(jiǎn)稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其原理是用X光激發(fā)源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內(nèi)層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候，會(huì)放射出硫元素的特征X光。檢測(cè)器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號(hào)，儀器軟件系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)為對(duì)應(yīng)的測(cè)試強(qiáng)度。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣品建立特征X射線強(qiáng)度與硫含量之間的關(guān)系，也就是標(biāo)定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標(biāo)定曲線...
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XRF土壤分析儀無需每日校準(zhǔn)即可獲得高精度結(jié)果
土壤作為人類賴以生存的關(guān)鍵資源，在人類的生產(chǎn)生活中占據(jù)著至關(guān)重要的位置。土壤無機(jī)污染物中以重金屬比較突出，主要是由于重金屬不能為土壤微生物所分解，而易于積累。甚至有的通過食物鏈在人體內(nèi)蓄積，嚴(yán)重危害人體健康。便攜式XRF土壤分析儀實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確分析土壤中的有害金屬元素Pb（鉛），As（砷），Cd（鎘），Hg（汞），Cu（銅），Ni（鎳），Zn（鋅），Cr（鉻）等，能夠?qū)崟r(shí)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)廠區(qū)、礦區(qū)、重工業(yè)區(qū)周邊的環(huán)境進(jìn)行監(jiān)測(cè)，從而進(jìn)行控制排放和污染治理。操作人員可以直接用Compas...
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EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀不同的應(yīng)用案例
作為一款立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800MMAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時(shí)搭配了高計(jì)數(shù)率和高分辨率的FSDD探測(cè)器，它提供了出色的線性動(dòng)態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。ESI英飛思EDX8800MMAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行高精度材料成分分析的場(chǎng)所。應(yīng)用方向：RoHS篩選測(cè)試，有害金屬快速篩查。石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測(cè)，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析。環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤...
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X熒光鍍層測(cè)厚儀出現(xiàn)故障后及時(shí)解決非常重要
X熒光鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于金屬加工、電子、環(huán)境監(jiān)測(cè)及質(zhì)檢等行業(yè)。它不僅能快速準(zhǔn)確地確定涂層厚度，還能分析元素的成分和化學(xué)狀態(tài)，為產(chǎn)品質(zhì)量控制和科學(xué)研究提供有力支持。在長期使用過程中，X熒光鍍層測(cè)厚儀可能會(huì)遇到一些故障。這些故障不僅會(huì)影響測(cè)量精度，還可能影響工作效率。因此，了解這些故障及其相應(yīng)的解決方法至關(guān)重要。1、測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。這可能是由于儀器校準(zhǔn)不當(dāng)或傳感器老化導(dǎo)致的。針對(duì)這類故障，我們可以首先嘗試重新校準(zhǔn)儀器，確保校準(zhǔn)參數(shù)正確無...
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