X熒光光譜儀在實(shí)際操作中的常見問題相應(yīng)解決方法分享
2025-04-21
X熒光光譜儀是一種基于X射線熒光效應(yīng)的分析儀器，用于快速、無損地檢測(cè)樣品中的元素成分與含量。其工作原理是利用X射線管產(chǎn)生的高能X射線激發(fā)樣品，使樣品中元素的原子內(nèi)層電子躍遷，外層電子填補(bǔ)空穴時(shí)釋放出特征X射線熒光。X熒光光譜儀在實(shí)際操作中用戶可能會(huì)遇到一些問題，以下是常見問題相應(yīng)...
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XRF熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀樣品前處理制備方法介紹??
XRF熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀EDX9000B樣品前處理制備方法介紹??X射線螢光光譜儀XRFSpectrometerX射線熒光光譜儀,分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩類,前者在分辨率和穩(wěn)定性等方面優(yōu)于后者,使用廣泛；后者結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,休積小,便于攜帶,適用于野外地質(zhì)和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)分析。波長(zhǎng)色散型又分為多道式和順序式兩種,多道式一般有28-30個(gè)波道,可同時(shí)進(jìn)行28-30個(gè)元素的分析,分析速度快,適合于固定元素或成批試樣的生產(chǎn)控制、地質(zhì)勘探等方面的分析；而順序式儀器具有較大的靈活性和...
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EDXRF便攜式礦石土壤分析儀對(duì)土壤分析檢測(cè)的應(yīng)用
便攜式礦石土壤分析儀Compass200能量色散熒光光譜XRF?通常認(rèn)可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質(zhì)譜法（ICP-MS）等。X射線熒光光譜法是利用樣品對(duì)X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測(cè)定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡(jiǎn)單、可分析元素范圍廣、譜線簡(jiǎn)單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測(cè)定時(shí)的非破壞性等特點(diǎn)...
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真空型合金分析儀在銅合金檢測(cè)分析的應(yīng)用
真空型銅合金分析儀能量色散熒光光譜EDX9000A銅合金具有良好的導(dǎo)電性能，是工業(yè)中重要的金屬材料。近年來，全球銅價(jià)的大幅上漲進(jìn)一步增加了銅合金零件的成本。隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，提高銅合金材料的性能已至關(guān)重要。在高導(dǎo)熱或高導(dǎo)熱條件下，要求提高其硬度、耐磨性和抗電弧燒蝕性。因此，表面改性是延長(zhǎng)銅合金零件使用壽命、降低成本的有效途徑。銅合金分析儀EDX9000A，又稱X射線熒光光譜儀，是一種物理的合金元素分析儀，具有快速、無損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)檢測(cè)設(shè)備...
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XRF鍍層測(cè)厚儀涂層膜厚儀對(duì)涂層檢測(cè)分析的應(yīng)用
XRF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本。客戶還通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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ROHS2.0分析儀LC-3000高效液相色譜?簡(jiǎn)介
ROHS2.0分析儀LC-3000高效液相色譜?RoHS2.0是舊RoHS的升級(jí)版本RoHS是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)，它的全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》(RestrictionofHazardousSubstances)。該標(biāo)準(zhǔn)已于2006年7月1日開始正式實(shí)施，主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn)，使之更加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電機(jī)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚(注意:PBDE正確的中文名稱...
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EDXRF便攜式礦石分析儀真空型礦石成分分析光譜儀?
便攜式礦石分析儀Compass-300真空型礦石成分分析光譜儀?X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析技術(shù)是采用現(xiàn)場(chǎng)X射線光譜儀在采樣現(xiàn)場(chǎng)對(duì)待測(cè)目標(biāo)體中元素進(jìn)行快速地定性和定量分析技術(shù),又稱為現(xiàn)場(chǎng)X射線熒光礦石分析儀。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析的應(yīng)用場(chǎng)景與采樣方法,X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)分析可分為X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)原位分析和X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)取樣分析?，F(xiàn)場(chǎng)原位分析是指將X射線光譜分析儀的探測(cè)窗直接置于巖(礦)石露頭或土壤或其他待測(cè)物料的表面,在現(xiàn)場(chǎng)原生條件下獲取待測(cè)目標(biāo)體中元素種類和元素含量的分析方法;現(xiàn)場(chǎng)取樣分析是指對(duì)待測(cè)...
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EDXRF熒光光譜儀測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬鍍層涂層材料成分和厚度分析
涂層分析可以告訴你很多關(guān)于材料、物品等的內(nèi)容。簡(jiǎn)單的例子：可以測(cè)量由某種合金制成的細(xì)節(jié)的含量，而不會(huì)對(duì)其造成損壞。應(yīng)用分析的另一種方法是通過測(cè)量珠寶來識(shí)別有害或過多的雜質(zhì)和鍍金。涂層厚度分析幾乎可以應(yīng)用于重工業(yè)和輕工業(yè)、建筑、公用事業(yè)等的每個(gè)領(lǐng)域。哪些行業(yè)必須進(jìn)行涂層厚度測(cè)量？電鍍厚度由于使用XRF8000膜厚儀進(jìn)行涂層厚度測(cè)量可以獲得準(zhǔn)確的覆蓋層元素組成，因此其設(shè)備領(lǐng)域眾多：控制生產(chǎn)質(zhì)量的輕重工業(yè)；需要對(duì)金屬和合金含量和金屬分選進(jìn)行精確測(cè)試的冶金；油漆和清漆行業(yè)：生產(chǎn)中鉛濃...
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